| Title: |
Développement de l'ablation laser en champ proche couplée à l'ICP-MS pour l'analyse élémentaire et isotopique sub-micrométrique d’échantillons solides |
| Authors: |
Chartier, Fredéric; Etcheberry, Arnaud; Lacour, J.-L.; Tabarant, Michel; Semerok, Alexandre; Vercouter, Thomas; Maskrot, Hicham; Aureau, Damien |
| Contributors: |
Département de Physico-Chimie (DPC); CEA-Direction des Energies (ex-Direction de l'Energie Nucléaire) (CEA-DES (ex-DEN)); Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Université Paris-Saclay; Institut Lavoisier de Versailles (ILV); Université de Versailles Saint-Quentin-en-Yvelines (UVSQ)-Institut de Chimie - CNRS Chimie (INC-CNRS)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS); Laboratoire de développement Analytique Nucléaire Isotopique et Elémentaire (LANIE); Service d'études analytiques et de réactivité des surfaces (SEARS); Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Université Paris-Saclay-CEA-Direction des Energies (ex-Direction de l'Energie Nucléaire) (CEA-DES (ex-DEN)); Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Université Paris-Saclay-Département de Physico-Chimie (DPC); Paris VI |
| Source: |
ED 388 - Ecole doctorale: Chimie physique et chimie analytique de Paris Centre ; https://cea.hal.science/cea-02499895 ; ED 388 - Ecole doctorale: Chimie physique et chimie analytique de Paris Centre, Paris VI, May 2015, Paris, France |
| Publisher Information: |
CCSD |
| Publication Year: |
2015 |
| Collection: |
Université de Versailles Saint-Quentin-en-Yvelines: HAL-UVSQ |
| Subject Terms: |
[PHYS.NUCL]Physics [physics]/Nuclear Theory [nucl-th]; [PHYS.NEXP]Physics [physics]/Nuclear Experiment [nucl-ex] |
| Subject Geographic: |
Paris; France |
| Description: |
International audience ; Les techniques d’analyse à résolution latérale nanométrique sont indispensables pour la nano imagerie et la nano caractérisation dans de nombreux domaines de recherche; comme ceux des matériaux (étude d’homogénéité, étude des mécanismes de corrosion), des sciences du vivant et des sciences de la terre. L’ablation laser en champ proche couplée à l’ICP-MS permet d’obtenir une résolution latérale à l’échelle nanométrique contrairement à l’ablation classique qui est limitée par la diffraction de la lumière (Critère de Rayleigh) et par conséquent une résolution latérale limitée à quelques $\mu$m.Les travaux sur ce sujet sont peu abondants. Cette thèse vise à répondre aux besoins d’analyse qualitative et quantitative à l’échelle sub-micrométrique en utilisant une méthode d’analyse et de cartographie élémentaire innovante qui combine un laser, un microscope à force atomique AFM et un ICP-MS haute résolution. |
| Document Type: |
conference object |
| Language: |
French |
| Availability: |
https://cea.hal.science/cea-02499895; https://cea.hal.science/cea-02499895v1/document; https://cea.hal.science/cea-02499895v1/file/201500002299.pdf |
| Rights: |
info:eu-repo/semantics/OpenAccess |
| Accession Number: |
edsbas.2C8295F6 |
| Database: |
BASE |