| Contributors: |
Tabah, A.; Buetti, N.; Staiquly, Q.; Ruckly, S.; Akova, M.; Aslan, A. T.; Leone, M.; Conway Morris, A.; Bassetti, M.; Arvaniti, K.; Lipman, J.; Ferrer, R.; Qiu, H.; Paiva, J. -A.; Povoa, P.; De Bus, L.; De Waele, J.; Zand, F.; Gurjar, M.; Alsisi, A.; Abidi, K.; Bracht, H.; Hayashi, Y.; Jeon, K.; Elhadi, M.; Barbier, F.; Timsit, J. -F.; Pollock, H.; Margetts, B.; Young, M.; Bhadange, N.; Tyler, S.; Ledtischke, A.; Finnis, M.; Dwivedi, J.; Saxena, M.; Biradar, V.; Soar, N.; Sarode, V.; Brewster, D.; Regli, A.; Weeda, E.; Ahmed, S.; Fourie, C.; Laupland, K.; Ramanan, M.; Walsham, J.; Meyer, J.; Litton, E.; Palermo, A. M.; Yap, T.; Eroglu, E.; Attokaran, A. G.; Jaramillo, C.; Nafees, K. M. K.; Rashid, N. A. H. A.; Walid, H. A. M. I.; Mon, T.; Moorthi, P. D.; Sudhirchandra, S.; Sridharan, D. D.; Haibo, Q.; Jianfeng, X.; Wei-Hua, L.; Zhen, W.; Qian, C.; Luo, J.; Chen, X.; Wang, H.; Zhao, P.; Zhao, J.; Wusi, Q.; Mingmin, C.; Xu, L.; Yin, C.; Wang, R.; Wang, J.; Yin, Y.; Zhang, M.; Ye, J.; Hu, C.; Zhou, S.; Huang, M.; Yan, J.; Wang, Y.; Qin, B.; Ye, L.; Weifeng, X.; Peije, L.; Geng, N.; Karumai, T.; Yamasaki, M.; Hashimoto, S.; Hosokawa, K.; Makino, J.; Matsuyoshi, T.; Kuriyama, A. |