Katalog Plus
Bibliothek der Frankfurt UAS
Bald neuer Katalog: sichern Sie sich schon vorab Ihre persönlichen Merklisten im Nutzerkonto: Anleitung.
Dieses Ergebnis aus BASE kann Gästen nicht angezeigt werden.  Login für vollen Zugriff.

Efficient propagation of systematic uncertainties from calibration to analysis with the SnowStorm method in IceCube

Title: Efficient propagation of systematic uncertainties from calibration to analysis with the SnowStorm method in IceCube
Authors: Aartsen, M. G.; Ackermann, M.; Adams, J.; Aguilar, J. A.; Ahlers, M.; Alispach, C.; Al Atoum, B.; Andeen, K.; Anderson, T.; Ansseau, I; Anton, G.; Arguelles, C.; Auenberg, J.; Axani, S.; Backes, P.; Bagherpour, H.; Bai, X.; Balagopal, A., V; Barbano, A.; Barwick, S. W.; Bastian, B.; Baum, V; Baur, S.; Bay, R.; Beatty, J. J.; Becker, K-H; Tjus, J. Becker; BenZvi, S.; Berley, D.; Bernardini, E.; Besson, D. Z.; Binder, G.; Bindig, D.; Blaufuss, E.; Blot, S.; Bohm, C.; Boerner, M.; Boeser, S.; Botner, O.; Boettcher, J.; Bourbeau, E.; Bourbeau, J.; Bradascio, F.; Braun, J.; Bron, S.; Brostean-Kaiser, J.; Burgman, A.; Buscher, J.; Busse, R. S.; Carver, T.; Chen, C.; Cheung, E.; Chirkin, D.; Choi, S.; Clark, K.; Classen, L.; Coleman, A.; Collin, G. H.; Conrad, J. M.; Coppin, P.; Correa, P.; Cowen, D. F.; Cross, R.; Dave, P.; De Clercq, C.; DeLaunay, J. J.; Dembinski, H.; Deoskar, K.; De Ridder, Sam; Desiati, P.; de Vries, K. D.; de Wasseige, G.; de With, M.; DeYoung, T.; Diaz, A.; Diaz-Velez, J. C.; Dujmovic, H.; Dunkman, M.; Dvorak, E.; Eberhardt, B.; Ehrhardt, T.; Eller, P.; Engel, R.; Evenson, P. A.; Fahey, S.; Fazely, A. R.; Felde, J.; Filimonov, K.; Finley, C.; Franckowiak, A.; Friedman, E.; Fritz, A.; Gaisser, T. K.; Gallagher, J.; Ganster, E.; Garrappa, S.; Gerhardt, L.; Ghorbani, K.; Glauch, T.; Gluesenkamp, T.; Goldschmidt, A.; Gonzalez, J. G.; Grant, D.; Griffith, Z.; Griswold, S.; Guender, M.; Guenduez, M.; Haack, C.; Hallgren, A.; Halve, L.; Halzen, F.; Hanson, K.; Haungs, A.; Hebecker, D.; Heereman, D.; Heix, P.; Helbing, K.; Hellauer, R.; Henningsen, F.; Hickford, S.; Hignight, J.; Hill, G. C.; Hoffman, K. D.; Hoffmann, R.; Hoinka, T.; Hokanson-Fasig, B.; Hoshina, K.; Huang, F.; Huber, M.; Huber, T.; Hultqvist, K.; Huennefeld, M.; Hussain, R.; In, S.; Iovine, N.; Ishihara, A.; Japaridze, G. S.; Jeong, M.; Jero, K.; Jones, B. J. P.; Jonske, F.; Joppe, R.; Kang, D.; Kang, W.; Kappes, A.; Kappesser, D.; Karg, T.; Karl, M.; Karle, A.; Katz, U.; Kauer, M.; Kelley, J. L.; Kheirandish, A.; Kim, J.; Kintscher, T.; Kiryluk, J.; Kittler, T.; Klein, S. R.; Koirala, R.; Kolanoski, H.; Kopke, L.; Kopper, C.; Kopper, S.; Koskinen, D. J.; Kowalski, M.; Krings, K.; Krueckl, G.; Kulacz, N.; Kurahashi, N.; Kyriacou, A.; Labare, Mathieu; Lanfranchi, J. L.; Larson, M. J.; Lauber, F.; Lazar, J. P.; Leonard, K.; Leszczynska, A.; Leuermann, M.; Liu, Q. R.; Lohfink, E.; Mariscal, C. J. Lozano; Lu, L.; Lucarelli, F.; Lunemann, J.; Luszczak, W.; Lyu, Y.; Madsen, J.; Maggi, G.; Mahn, K. B. M.; Makino, Y.; Mallik, P.; Mallot, K.; Mancina, S.; Maris, I. C.; Maruyama, R.; Mase, K.; Maunu, R.; McNally, F.; Meagher, K.; Medici, M.; Medina, A.; Meier, M.; Meighen-Berger, S.; Menne, T.; Merino, G.; Meures, T.; Micallef, J.; Mockler, D.; Momente, G.; Montaruli, T.; Moore, R. W.; Morse, R.; Moulai, M.; Muth, P.; Nagai, R.; Naumann, U.; Neer, G.; Niederhausen, H.; Nowicki, S. C.; Nygren, D. R.; Pollmann, A. Obertacke; Oehler, M.; Olivas, A.; O'Murchadha, A.; O'Sullivan, E.; Palczewski, T.; Pandya, H.; Pankova, D., V; Park, N.; Peiffer, P.; de los Heros, C. Perez; Philippen, S.; Pieloth, D.; Pinat, E.; Pizzuto, A.; Plum, M.; Porcelli, Alessio; Price, P. B.; Przybylski, G. T.; Raab, C.; Raissi, A.; Rameez, M.; Rauch, L.; Rawlins, K.; Rea, I. C.; Reimann, R.; Relethford, B.; Renschler, M.; Renzi, G.; Resconi, E.; Rhode, W.; Richman, M.; Robertson, S.; Rongen, M.; Rott, C.; Ruhe, T.; Ryckbosch, Dirk; Rysewyk, D.; Safa, I; Herrera, S. E. Sanchez; Sandrock, A.; Sandroos, J.; Santander, M.; Sarkar, S.; Satalecka, K.; Schaufel, M.; Schieler, H.; Schlunder, P.; Schmidt, T.; Schneider, A.; Schneider, J.; Schroeder, F. G.; Schumacher, L.; Sclafani, S.; Seckel, D.; Seunarine, S.; Shefali, S.; Silva, M.; Snihur, R.; Soedingrekso, J.; Soldin, D.; Song, M.; Spiczak, G. M.; Spiering, C.; Stachurska, J.; Stamatikos, M.; Stanev, T.; Stein, R.; Steinmuller, P.; Stettner, J.; Steuer, A.; Stezelberger, T.; Stokstad, R. G.; Stossl, A.; Strotjohann, N. L.; Stuerwald, T.; Stuttard, T.; Sullivan, G. W.; Taboada, I; Tenholt, F.; Ter-Antonyan, S.; Terliuk, A.; Tilav, S.; Tollefson, K.; Tomankova, L.; Tonnis, C.; Toscano, S.; Tosi, D.; Trettin, A.; Tselengidou, M.; Tung, C. F.; Turcati, A.; Turcotte, R.; Turley, C. F.; Ty, B.; Unger, E.; Elorrieta, M. A. Unland; Usner, M.; Vandenbroucke, J.; Van Driessche, Ward; van Eijk, D.; van Eijndhoven, N.; Vanheule, Sander; van Santen, J.; Vraeghe, Matthias; Walck, C.; Wallace, A.; Wallra, M.; Wandkowsky, N.; Watson, T. B.; Weaver, C.; Weindl, A.; Weiss, M. J.; Weldert, J.; Wendt, C.; Werthebach, J.; Whelan, B. J.; Whitehorn, N.; Wiebe, K.; Wiebusch, C. H.; Wille, L.; Williams, D. R.; Wills, L.; Wolf, M.; Wood, J.; Wood, T. R.; Woschnagg, K.; Wrede, G.; Xu, D. L.; Xu, X. W.; Xu, Y.; Yanez, J. P.; Yodh, G.; Yoshida, S.; Yuan, T.; Zoecklein, M.
Source: JOURNAL OF COSMOLOGY AND ASTROPARTICLE PHYSICS ; ISSN: 1475-7516
Publication Year: 2019
Collection: Ghent University Academic Bibliography
Subject Terms: Physics and Astronomy; SOUTH-POLE ICE; OPTICAL-PROPERTIES; DEEP ICE; neutrino detectors; neutrino experiments; ultra high energy photons and; neutrinos
Description: Efficient treatment of systematic uncertainties that depend on a large number of nuisance parameters is a persistent difficulty in particle physics and astrophysics experiments. Where low-level effects are not amenable to simple parameterization or re-weighting, analyses often rely on discrete simulation sets to quantify the effects of nuisance parameters on key analysis observables. Such methods may become computationally untenable for analyses requiring high statistics Monte Carlo with a large number of nuisance degrees of freedom, especially in cases where these degrees of freedom parameterize the shape of a continuous distribution. In this paper we present a method for treating systematic uncertainties in a computationally efficient and comprehensive manner using a single simulation set with multiple and continuously varied nuisance parameters. This method is demonstrated for the case of the depth-dependent effective dust distribution within the IceCube Neutrino Telescope.
Document Type: article in journal/newspaper
File Description: application/pdf
Language: English
Relation: https://biblio.ugent.be/publication/8668166; https://biblio.ugent.be/publication/8668166/file/8668212
DOI: 10.1088/1475-7516/2019/10/048
Availability: https://biblio.ugent.be/publication/8668166; https://hdl.handle.net/1854/LU-8668166; https://doi.org/10.1088/1475-7516/2019/10/048; https://biblio.ugent.be/publication/8668166/file/8668212
Rights: info:eu-repo/semantics/openAccess
Accession Number: edsbas.41DF4891
Database: BASE