Katalog Plus
Bibliothek der Frankfurt UAS
Bald neuer Katalog: sichern Sie sich schon vorab Ihre persönlichen Merklisten im Nutzerkonto: Anleitung.
Dieses Ergebnis aus BASE kann Gästen nicht angezeigt werden.  Login für vollen Zugriff.

Measurement of the background in the CMS muon detector in ${p}{p}$-collisions at $\sqrt{s} = 13$ $\,\text {Te}\hspace{-.08em}\text {V}$

Title: Measurement of the background in the CMS muon detector in ${p}{p}$-collisions at $\sqrt{s} = 13$ $\,\text {Te}\hspace{-.08em}\text {V}$
Authors: CMS Muon Group; Tytgat, M.; Muhammad, A.; De Lentdecker, G.; Jaramillo, J.; Moureaux, L.; Pétré, L.; Yang, Y.; Rendón, C.; Gokbulut, G.; Hong, Y.; Samalan, A.; Alves, G. A.; Marujo da Silva, F.; Alves Coelho, E.; Barroso Ferreira Filho, M.; Da Costa, E. M.; De Jesus Damiao, D.; Ferreira, B. C.; Fonseca De Souza, S.; Mota Amarilo, K.; Nogima, H.; Santoro, A.; Thiel, M.; Aleksandrov, A.; Dimitrov, L.; Hadjiiska, R.; Iaydjiev, P.; Misheva, M.; Mitev, G.; Ratchev, L.; Rashevski, G.; Shopova, M.; Sultanov, G.; Dimitrov, A.; Litov, L.; Pavlov, B.; Petkov, P.; Petrov, A.; Shumka, E.; Keshri, S.; Thakur, S.; Chen, M.; Dong, X.; Gong, W.; Hou, Q.; Jiang, C.; Kou, H.; Liu, Z.-A.; Luo, W.; Song, J.; Sun, L.; Wang, N.; Wang, Y.; Wang, Z.; Zhang, C.; Zhang, Y.; Zhang, H.; Zhao, J.; Agapitos, A.; Ban, Y.; Levin, A.; Li, Q.; Qian, S. J.; Wang, D.; Wang, K.; You, Z.; Avila, C.; Barbosa Trujillo, D. A.; Cabrera, A.; Florez, C. A.; Fraga, J.; Reyes Vega, J. A.; Ramirez, F.; Rodriguez, M.; Ruiz, J. D.; Vanegas, N.; Abdalla, H.; Abdelalim, A. A.; Assran, Y.; Radi, A.; Crotty, I.; Mahmoud, M. A.; Balleyguier, L.; Chen, X.; Combaret, C.; Galbit, G.; Gouzevitch, M.; Grenier, G.; Laktineh, I. B.; Luciol, A.; Mirabito, L.; Tromeur, W.; Bagaturia, I.; Lomidze, I.; Kemularia, O.; Tsamalaidze, Z.; Böttger, U.; Eliseev, D.; Hebbeker, T.; Hoepfner, K.; Merschmeyer, M.; Ivone, F.; Mukherjee, S.; Nowotny, F.; Philipps, B.; Reithler, H.; Sharma, A.; Torres Da Silva De Araujo, F.; Wiedenbeck, S.; Zaleski, S.; Zantis, F. P.; Abbas, M.; Mallows, S.; Bencze, G.; Beni, N.; Molnar, J.; Szillasi, Z.; Teyssier, D.; Ujvari, B.; Zilizi, G.; Babbar, J.; Bansal, S.; Bhatnagar, V.; Chauhan, S.; Kaur, A.; Kaur, H.; Kaur Sahota, A.; Kumar, S.; Sheokand, T.; Singh, J.; Choudhary, B. C.; Kumar, A.; Kumar Saini, M.; Naimuddin, M.; Majumdar, N.; Mukhopadhyay, S.; Rout, P.; Amoozegar, V.; Boghrati, B.; Ebraimi, M.; Mohammadi Najafabadi, M.; Zareian, E.; Abbrescia, M.; Aly, R.; Buonsante, M.; Colaleo, A.; De Filippis, N.; Dell’Olio, D.; De Robertis, G.; Elmetenawee, W.; Ferrara, N.; Franco, M.; Iaselli, G.; Lacalamita, N.; Licciulli, F.; Loddo, F.; Maggi, M.; Martiradonna, S.; Nuzzo, S.; Longo, L.; Pellecchia, A.; Pugliese, G.; Radogna, R.; Ramos, D.; Ranieri, A.; Simone, F. M.; Stamerra, A.; Troiano, D.; Venditti, R.; Verwilligen, P.; Zaza, A.; Abbiendi, G.; Baldanza, C.; Battilana, C.; Benvenuti, A.; Borgonovi, L.; Cafaro, V.; Cavallo, F. R.; Crupano, A.; Cuffiani, M.; Dallavalle, G. M.; Fabbri, F.; Fanfani, A.; Fasanella, D.; Giacomelli, P.; Giordano, V.; Guandalini, C.; Guiducci, L.; Lo Meo, S.; Lunerti, L.; Marcellini, S.; Masetti, G.; Navarria, F. L.; Paggi, G.; Perrotta, A.; Primavera, F.; Rossi, A. M.; Rovelli, T.; Torromeo, G.; Benussi, L.; Bianco, S.; Campagnola, R.; Caponero, M.; Colafranceschi, S.; Meola, S.; Passamonti, L.; Piccolo, D.; Pierluigi, D.; Raffone, G.; Russo, A.; Saviano, G.; Buontempo, S.; Cagnotta, A.; Carnevali, F.; Cassese, F.; Cavallo, N.; De Iorio, A.; Fabozzi, F.; Iorio, A. O. M.; Lista, L.; Paolucci, P.; Passeggio, G.; Rossi, B.; Barcellan, L.; Bellato, M.; Benettoni, M.; Bergnoli, A.; Bragagnolo, A.; Carlin, R.; Castellani, L.; Checchia, P.; Ciano, L.; Colombo, A.; Corti, D.; Gasparini, F.; Gasparini, U.; Gonella, F.; Gozzelino, A.; Griggio, A.; Grosso, G.; Gulmini, M.; Isocrate, R.; Lusiani, E.; Maron, G.; Margoni, M.; Meneguzzo, A. T.; Migliorini, M.; Modenese, L.; Montecassiano, F.; Negrello, M.; Passaseo, M.; Pazzini, J.; Ramina, L.; Rampazzo, M.; Rebeschini, M.; Ronchese, P.; Rossin, R.; Simonetto, F.; Toffano, M.; Toniolo, N.; Triossi, A.; Ventura, S.; Zanetti, M.; Zatti, P. G.; Zotto, P.; Zucchetta, A.; AbuZeid, S.; Aimè, C.; Braghieri, A.; Calzaferri, S.; Fiorina, D.; Gigli, S.; Montagna, P.; Riccardi, C.; Salvini, P.; Vai, I.; Vitulo, P.; Amapane, N.; Cotto, G.; Dattola, D.; De Remigis, P.; Kiani, B.; Mariotti, C.; Maselli, S.; Pelliccioni, M.; Rotondo, F.; Staiano, A.; Trocino, D.; Umoret, G.; Asilar, E.; Kim, T. J.; Merlin, J. A.; Choi, S.; Hong, B.; Lee, K. S.; Goh, J.; Choi, J.; Kim, J.; Yang, U.; Yoon, I.; Jang, W.; Heo, J.; Kang, D.; Kang, Y.; Kim, D.; Kim, S.; Ko, B.; Lee, J. S. H.; Park, I. C.; Watson, I. J.; Yang, S.; Jeong, Y.; Lee, Y.; Yu, I.; Alasfour, G.; Beyrouthy, T.; Gharbia, Y.; Maghrbi, Y.; Otkur, M.; Castilla-Valdez, H.; Crotte Ledesma, H.; Lopez-Fernandez, R.; Sánchez Hernández, A.; Ramírez García, M.; Vazquez, E.; Shah, M. A.; Zaganidis, N.; Pedraza, I.; Uribe Estrada, C.; Ahmad, A.; Ahmed, W.; Asghar, M. I.; Hoorani, H. R.; Muhammad, S.; Wajid, A.; Alcaraz Maestre, J.; Álvarez Fernández, A.; Fernandez Bedoya, Cristina F.; Blanco Ramos, L. C.; Calvo, E.; Carrillo Montoya, C. A.; Cela Ruiz, J. M.; Cepeda, M.; Cerrada, M.; Colino, N.; Cuadrado Calzada, S.; Cuchillo Ortega, J.; De La Cruz, B.; de Lara Rodríguez, C. I.; Fernández Del Val, D.; Fernández Ramos, J. P.; Fouz, M. C.; Francia Ferrero, D.; García Romero, J.; Gonzalez Lopez, O.; Goy Lopez, S.; Josa, M. I.; León Holgado, J.; Manzanilla Carretero, O.; Martín Martín, I.; Martínez Morales, J. J.; Martín Viscasillas, E.; Moran, D.; Navarro Tobar, Á.; Paz Herrera, R.; Puras Sánchez, J. C.; Puerta Pelayo, J.; Pulido Ferrero, S.; Redondo, I.; Redondo Ferrero, D. D.; Salto Parra, V.; Sánchez Navas, S.; Sastre, J.; Urda Gómez, L.; Vazquez Escobar, J.; de Trocóniz, J. F.; Frias Garcia-Lago, F.; Reyes-Almanza, R.; Alvarez Gonzalez, B.; Cuevas, J.; Fernandez Menendez, J.; Folgueras, S.; Gonzalez Caballero, I.; Leguina López, P.; Palencia Cortezon, E.; Ramón Álvarez, C.; Prado Pico, J.; Rodríguez Bouza, V.; Soto Rodríguez, A.; Trapote, A.; Villalba, C. Vico; Kailasapathy, B.; Malagalage, K.; Sonnadara, D. U. J.; Wickramarathna, D. D. C.; Dharmaratna, W. G. D.; Liyanage, K.; Perera, N.; Wickramage, N.; Aspell, P.; Bianco, M.; Bozzato, D.; Brachet, S.; Conde Garcia, A.; Dabrowski, A.; De Oliveira, R.; Fallavollita, F.; Kicsiny, P.; Hazen, E.; May, S.; Peck, A.; Salyer, K.; Suarez, I.; Abbott, S.; Bonilla, J.; Breedon, R.; Cai, H.; Cox, P. T.; Erbacher, R.; Kukral, O.; McLean, C.; Mocellin, G.; Mulhearn, M.; Regnery, B.; Tripathi, M.; Waegel, G.; Yao, Y.; Carlson, J.; Cousins, R.; Dasgupta, A.; Datta, A.; Hauser, J.; Ignatenko, M.; Iqbal, M. A.; Lo, C.; Saltzberg, D.; Schnaible, C.; Valuev, V.; Clare, R.; Gordon, M.; Hanson, G.; Amin, N.; Bradmiller-Feld, J.; Campagnari, C.; Danielson, T.; Dishaw, A.; Dorsett, A.; Marsh, B.; Mei, H.; Oshiro, M.; Richman, J.; Setti, F.; Sevilla, M. F.; Siddireddy, P.; Wang, S.; Aruta, C.; Barashko, V.; Cherepanov, V.; Dittrich, M.; Korytov, A.; Kuznetsova, E.; Madorsky, A.; Mitselmakher, G.; Muthirakalayil Madhu, A.; Rawal, N.; Terentyev, N.; Wang, J.; Alsufyani, B.; Butalla, S.; Elkafrawy, T.; Hohlmann, M.; Yanes, E.; Eysermans, J.; Barberis, E.; Haddad, Y.; Han, Y.; Madigan, G.; Morse, D. M.; Nguyen, V.; Wood, D.; Bhattacharya, S.; Bueghly, J.; Chen, Z.; Hahn, K. A.; Liu, Y.; Miao, Y.; Monk, D. G.; Schmitt, M. H.; Taliercio, A.; Velasco, M.; Bylsma, B.; Carrigan, M.; De Los Santos, R.; Durkin, L. S.; Hill, C.; Banicz, K.; Liu, J.; Matveev, M.; Padley, B. P.; Aebi, D.; Ahmad, M.; Akhter, T.; Bolshov, A.; Bouhali, O.; Eusebi, R.; Gilmore, J.; Huang, T.; Juska, E.; Kamon, T.; Kim, H.; Kizlov, M.; Malhotra, S.; Mueller, R.; Rabadan, R.; Rathjens, D.; Safonov, A.; Karchin, P. E.; Aravind, A.; Black, K.; De Bruyn, I.; Everaerts, P.; Galloni, C.; Herndon, M.; Lanaro, A.; Loveless, R.; Madhusudanan Sreekala, J.; Mondal, S.; Teague, D.; Vetens, W.; Warden, A.; Azhgirey, I.; Borshch, V.; Chtchipunov, L.; Egorov, A.; Gavrilov, G.; Golovtcov, V.; Ivanov, M.; Ivantchenko, V.; Ivanov, Y.; Karjavine, V.; Khodinov, A.; Kim, V.; Kurochkin, I. A.; Levchenko, P.; Murzin, V.; Nasybulin, S.; Oreshkin, V.; Palichik, V.; Perelygin, V.; Riabchikova, A.; Sosnov, D.; Sulimov, V.; Uvarov, L.; Vavilov, S.; Vorobyev, A.
Source: The European Physical Journal C, 84 (9), Art.-Nr.: 955 ; ISSN: 1434-6052
Publisher Information: Springer-Verlag
Publication Year: 2024
Collection: KITopen (Karlsruhe Institute of Technologie)
Subject Terms: ddc:530; Physics; info:eu-repo/classification/ddc/530
Description: The CMS detector, including its muon system, has been operating at the CERN LHC in increasingly challenging conditions for about 15 years. The muon detector was designed to provide excellent triggering and track reconstruction for muons produced in proton–proton collisons at an instantaneous luminosity () of 1x10$^{34}$cm$^{-2}$ s$^{-1}$. During the Run 2 data-taking period (2015–2018), the LHC achieved an instantaneous luminosity of twice its design value, resulting in larger background rates and making the efficient detection of muons more difficult. While some backgrounds result from natural radioactivity, cosmic rays, and interactions of the circulating protons with residual gas in the beam pipe, the dominant source of background hits in the muon system arises from proton–proton interactions themselves. Charged hadrons leaving the calorimeters produce energy deposits in the muon chambers. In addition, high-energy particles interacting in the hadron calorimeter and forward shielding elements generate thermal neutrons, which leak out of the calorimeter and shielding structures, filling the CMS cavern. We describe the method used to measure the background rates in the various muon subsystems.
Document Type: article in journal/newspaper
File Description: application/pdf
Language: English
ISSN: 1434-6052
Relation: info:eu-repo/semantics/altIdentifier/wos/001350295100001; info:eu-repo/semantics/altIdentifier/issn/1434-6052; https://publikationen.bibliothek.kit.edu/1000175517; https://publikationen.bibliothek.kit.edu/1000175517/155240270; https://doi.org/10.5445/IR/1000175517
DOI: 10.5445/IR/1000175517
Availability: https://publikationen.bibliothek.kit.edu/1000175517; https://publikationen.bibliothek.kit.edu/1000175517/155240270; https://doi.org/10.5445/IR/1000175517
Rights: https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/deed.de ; info:eu-repo/semantics/openAccess
Accession Number: edsbas.4967E1AF
Database: BASE