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Technologie InAlGaN/GaN/SiC à faibles effets mémoires délivrant 10W/mm à 30 GHz

Title: Technologie InAlGaN/GaN/SiC à faibles effets mémoires délivrant 10W/mm à 30 GHz
Authors: Piotrowicz, Stéphane; Patard, O.; Gamarra, P.; Potier, Clément; Chartier, E.; Dua, C.; Jacquet, J.C.; Lacam, M.; Michel, N.; Nallatamby, Jean-Christophe; Ouali, M.; Altuntas, P.; Prigent, Michel; Delage, Sylvain
Contributors: Alcatel-Thales III-V Lab (III-V Lab); THALES France; Alcatel-Thalès III-V lab (III-V Lab); THALES France -ALCATEL; Systèmes RF (XLIM-SRF); XLIM (XLIM); Université de Limoges (UNILIM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Limoges (UNILIM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
Source: 21èmes Journées Nationales Micro-Ondes; https://hal.science/hal-02460542; 21èmes Journées Nationales Micro-Ondes, May 2019, –Caen, France
Publisher Information: CCSD
Publication Year: 2019
Collection: Université de Limoges: HAL
Subject Terms: [SPI]Engineering Sciences [physics]; [SPI.TRON]Engineering Sciences [physics]/Electronics
Subject Geographic: –Caen; France
Description: International audience
Document Type: conference object
Language: French
Availability: https://hal.science/hal-02460542
Accession Number: edsbas.4BE378AE
Database: BASE