Katalog Plus
Bibliothek der Frankfurt UAS
Bald neuer Katalog: sichern Sie sich schon vorab Ihre persönlichen Merklisten im Nutzerkonto: Anleitung.
Dieses Ergebnis aus BASE kann Gästen nicht angezeigt werden.  Login für vollen Zugriff.

The LED calibration systems for the mDOM and D-Egg sensor modules of the IceCube Upgrade: Design, production, testing and use in module calibration

Title: The LED calibration systems for the mDOM and D-Egg sensor modules of the IceCube Upgrade: Design, production, testing and use in module calibration
Authors: IceCube Collaboration; Abbasi, R.; Andeen, K.; Feigl, N.; Finley, C.; Fischer, L.; Fox, D.; Franckowiak, A.; Fukami, S.; Fürst, Philipp; Gallagher, J.; Ganster, Erik; Garcia, A.; Argüelles, C.; Garcia, M.; Garg, G.; Genton, E.; Gerhardt, L.; Ghadimi, A.; Glaser, C.; Glüsenkamp, T.; Gonzalez, J. G.; Goswami, S.; Granados, A.; Ashida, Y.; Grant, D.; Gray, S. J.; Gravois, M.; Griffin, S.; Griswold, S.; Groth, K. M.; Guevel, D.; Günther, C.; Gutjahr, P.; Ha, C.; Athanasiadou, S.; Haack, C.; Hallgren, A.; Halve, Lasse Yannik; Halzen, F.; Hamacher, L.; Ha Minh, M.; Handt, Michael; Hanson, K.; Hardin, J.; Harnisch, A. A.; Axani, S. N.; Hatch, P.; Haungs, A.; Häußler, J.; Helbing, K.; Hellrung, Jonas; Henke, B.; Hennig, L.; Henningsen, F.; Heuermann, Lars Philipp; Hewett, R.; Babu, R.; Heyer, N.; Hickford, S.; Hidvegi, A.; Hill, C.; Hill, G. C.; Hmaid, R.; Hoffman, K. D.; Hooper, D.; Hori, S.; Hoshina, K.; Bai, X.; Hostert, M.; Hou, W.; Huber, T.; Hultqvist, K.; Hymon, K.; Ishihara, A.; Iwakiri, W.; Jacquart, M.; Jain, S.; Janik, O.; Baines-Holmes, J.; Jansson, M.; Jeong, M.; Jin, M.; Kamp, N.; Kang, D.; Kang, W.; Kang, X.; Kappes, A.; Kardum, L.; Karg, T.; Balagopal V., A.; Karl, M.; Karle, A.; Katil, A.; Kauer, M.; Kelley, J. L.; Khanal, M.; Khatee Zathul, A.; Kheirandish, A.; Kimku, H.; Kiryluk, J.; Barwick, S. W.; Klein, C.; Klein, S. R.; Kobayashi, Y.; Kochocki, A.; Koirala, R.; Kolanoski, H.; Kontrimas, T.; Köpke, L.; Kopper, C.; Koskinen, D. J.; Ackermann, M.; Bash, S.; Koundal, P.; Kowalski, M.; Kozynets, T.; Krieger, N.; Krishnamoorthi, J.; Krishnan, T.; Kruiswijk, K.; Krupczak, E.; Kumar, A.; Kun, E.; Basu, V.; Kurahashi, N.; Kurt, E. A.; Lad, N.; Gualda, C. Lagunas; Arnaud, L. Lallement; Lamoureux, M.; Larson, M. J.; Lauber, F.; Lazar, J. P.; Leonard DeHolton, K.; Bay, R.; Leszczyńska, A.; Liao, J.; Lin, C.; Liu, Y. T.; Liubarska, M.; Love, C.; Lu, L.; Lucarelli, F.; Luszczak, W.; Lyu, Y.; Beatty, J. J.; Madsen, J.; Magnus, E.; Makino, Y.; Manao, E.; Mancina, S.; Mand, A.; Mariş, I. C.; Marka, S.; Marka, Z.; Marten, Lasse; Becker Tjus, J.; Martinez-Soler, I.; Maruyama, R.; Mauro, J.; Mayhew, F.; McNally, F.; Mead, J. V.; Meagher, K.; Mechbal, S.; Medina, A.; Meier, M.; Behrens, Philipp; Merckx, Y.; Merten, L.; Meures, T.; Mitchell, J.; Molchany, L.; Montaruli, T.; Moore, R. W.; Morii, Y.; Mosbrugger, A.; Moulai, M.; Beise, J.; Mousadi, D.; Moyaux, E.; Mukherjee, T.; Naab, R.; Nakos, M.; Naumann, U.; Necker, J.; Neste, L.; Neumann, M.; Niederhausen, H.; Bellenghi, C.; Nisa, M. U.; Noda, K.; Nöll, Andreas Robert; Novikov, A.; Pollmann, A. Obertacke; O'Dell, V.; Olivas, A.; Orsoe, R.; Osborn, J.; O'Sullivan, E.; Benkel, B.; Palusova, V.; Pandya, H.; Parenti, A.; Park, N.; Parrish, V.; Paudel, E. N.; Paul, L.; de los Heros, C. Pérez; Pernice, T.; Peterson, J.; BenZvi, S.; Plum, M.; Pontén, A.; Poojyam, V.; Popovych, Y.; Rodriguez, M. Prado; Pries, B.; Procter-Murphy, R.; Przybylski, G. T.; Pyras, L.; Raab, C.; Adams, J.; Berley, D.; Rack-Helleis, J.; Rad, N.; Ravn, M.; Rawlins, K.; Rechav, Z.; Rehman, A.; Reistroffer, I.; Resconi, E.; Reusch, S.; Rho, C. D.; Bernardini, E.; Rhode, W.; Ricca, L.; Riedel, B.; Rifaie, Adam; Roberts, E. J.; Robertson, S.; Rongen, M.; Rosted, A.; Rott, C.; Ruhe, T.; Besson, D. Z.; Ruohan, L.; Ryckbosch, D.; Saffer, J.; Salazar-Gallegos, D.; Sampathkumar, P.; Sandrock, A.; Sandstrom, P.; Sanger-Johnson, G.; Santander, M.; Sarkar, S.; Blaufuss, E.; Savelberg, Joelle; Scarnera, M.; Schaile, P.; Schaufel, Merlin; Schieler, H.; Schindler, S.; Schlickmann, L.; Schlüter, B.; Schlüter, F.; Schmeisser, N.; Bloom, L.; Schmidt, T.; Schröder, F. G.; Schumacher, L.; Schunter, K.; Schwirn, Sönke; Sclafani, S.; Seckel, D.; Seen, L.; Seikh, M.; Seunarine, S.; Blot, S.; Sevle Myhr, P. A.; Shah, R.; Shefali, S.; Shimizu, N.; Skrzypek, B.; Snihur, R.; Soedingrekso, J.; Søgaard, A.; Soldin, D.; Soldin, Philipp; Bodo, I.; Sommani, G.; Spannfellner, C.; Spiczak, G. M.; Spiering, C.; Stachurska, J.; Stamatikos, M.; Stanev, T.; Stezelberger, T.; Stürwald, T.; Stuttard, T.; Bontempo, F.; Sulanke, K.-H.; Sullivan, G. W.; Taboada, I.; Ter-Antonyan, S.; Terliuk, A.; Thakuri, A.; Theobald, P.; Thiesmeyer, M.; Thompson, W. G.; Thwaites, J.; Motzkin, J. Y. Book; Tilav, S.; Tollefson, K.; Toscano, S.; Tosi, D.; Trevarrow, P.; Trettin, A.; Upadhyay, A. K.; Upshaw, K.; Vaidyanathan, A.; Valtonen-Mattila, N.; Boscolo Meneguolo, C.; Valverde, J.; Vandenbroucke, J.; Van Eeden, T.; van Eijndhoven, N.; Van Rootselaar, L.; van Santen, J.; Vara, J.; Varsi, F.; Venugopal, M.; Vereecken, M.; Agarwalla, S. K.; Böser, S.; Vergara Carrasco, S.; Verpoest, S.; Veske, D.; Vijai, A.; Villarreal, J.; Walck, C.; Wang, A.; Warrick, E. H. S.; Weaver, C.; Weigel, P.; Botner, O.; Weindl, A.; Weldert, J.; Wen, A. Y.; Wendt, C.; Werthebach, J.; Weyrauch, M.; Whitehorn, N.; Wiebusch, Christopher; Williams, D. R.; Witthaus, L.; Böttcher, Jakob; Wolf, M.; Wrede, G.; Xu, X. W.; Yanez, J. P.; Yao, Y.; Yildizci, E.; Yoshida, S.; Young, R.; Yu, F.; Yu, S.; Braun, J.; Yuan, T.; Zegarelli, A.; Zhang, S.; Zhang, Z.; Zhelnin, P.; Zilberman, P.; Brinson, B.; Brisson-Tsavoussis, Z.; Burley, R. T.; Butterfield, D.; Campana, M. A.; Carloni, K.; Aguilar, J. A.; Carpio, J.; Chattopadhyay, S.; Chau, N.; Chen, Z.; Chirkin, D.; Choi, S.; Clark, B. A.; Coleman, A.; Coleman, P. J.; Collin, G. H.; Ahlers, M.; Borja, D. A. Coloma; Connolly, A.; Conrad, J. M.; Corley, R.; Cowen, D. F.; De Clercq, C.; DeLaunay, J. J.; Delgado, D.; Delmeulle, T.; Deng, Shuyang; Alameddine, J. M.; Desiati, P.; de Vries, K. D.; de Wasseige, G.; DeYoung, T.; Díaz-Vélez, J. C.; DiKerby, S.; Dittmer, M.; Domi, A.; Draper, L.; Düser, Lasse; Ali, S.; Durnford, D.; Dutta, K.; DuVernois, M. A.; Ehrhardt, T.; Eidenschink, L.; Eimer, A.; Eller, P.; Ellinger, E.; Elsässer, D.; Engel, R.; Amin, N. M.; Erpenbeck, Hannah; Esmail, W.; Eulig, S.; Evans, J.; Evenson, P. A.; Fan, K. L.; Fang, K.; Farrag, K.; Fazely, A. R.; Fedynitch, A.
Source: Journal of Instrumentation 20(11), P11026 (2025). doi:10.1088/1748-0221/20/11/P11026
Publisher Information: Inst. of Physics
Publication Year: 2025
Collection: RWTH Aachen University: RWTH Publications
Subject Terms: info:eu-repo/classification/ddc/610; Analogue electronic circuits; Detector alignment and calibration methods (lasers; sources; particle-beams); Instrumentation and methods for time-of-flight (TOF) spectroscopy
Subject Geographic: DE
Document Type: article in journal/newspaper
Language: English
ISSN: 1748-0221
Relation: info:eu-repo/semantics/altIdentifier/issn/1748-0221; info:eu-repo/semantics/altIdentifier/wos/WOS:001641196200001
Availability: https://publications.rwth-aachen.de/record/1026368; https://publications.rwth-aachen.de/search?p=id:%22RWTH-2026-00839%22
Rights: info:eu-repo/semantics/openAccess
Accession Number: edsbas.5517866E
Database: BASE