| Authors: |
Sulkowski, M. S.; Poordad, F.; Manns, M. P.; Bronowicki, J. P.; Reddy, K. R.; Harrison, S. A.; Afdhal, N. H.; Sings, H. L.; Pedicone, L. D.; Koury, K. J.; Sniukiene, V.; Burroughs, M. H.; Albrecht, J. K.; Brass, C. A.; Jacobson, I. M.; Colombato, L.; Curciarello, J.; Silva, M.; Tanno, H.; Terg, R.; Adler, M.; Langlet, P.; Lasser, L.; Nevens, F.; Anderson, F.; Bailey, R.; Bilodeau, M.; Cooper, C.; Feinman, S. V.; Heathcote, J.; Levstik, M.; Ramji, A.; Sherman, M.; Shafran, S.; Yoshida, E.; Achim, A.; Ali, S. B.; Bigard, M. A.; Bonny, C.; Bourliere, M.; Boyer-Darrigrand, N.; Canva, V.; Couzigou, P.; De Ledinghen, V.; Guyader, D.; Hezode, C.; Larrey, D.; Latournerie, M.; Marcellin, P.; Mathurin, P.; Maynard-Muet, M.; Moussalli, J.; Poupon, R.; Poynard, T.; Serfaty, L.; Tran, A.; Trepo, C.; Truchi, R.; Zarski, J. P.; Berg, T.; Dikopoulos, N.; Eisenbach, C.; Galle, P. R.; Gerken, G.; Goeser, T.; Gregor, M.; Klass, D.; Kraus, M. R.; Niederau, C.; Schlaak, J. F.; Schmid, R.; Thies, P.; Schmidt, K.; Thimme, R.; Weidenbach, H.; Zeuzem, S.; Angelico, M.; Bruno, S.; Carosi, G.; Craxi, A.; Mangia, A.; Pirisi, M.; Rizzetto, M.; Taliani, G.; Zignego, A. L.; Reesink, H.; Serejo, F.; Reymunde, A.; Rosado, B.; Torres, E.; Marugan, R. B.; De La Mata, M.; Calleja, J. L.; Castellano, G.; Diago, M.; Esteban, R.; Fernandez, C.; Tapias, J. S.; Desfilis, M. A. S.; Afdhal, N.; Al-Osaimi, A.; Bacon, B.; Balart, L.; Bennett, M.; Bernstein, D.; Black, M.; Bowlus, C.; Boyer, T.; Dalke, D.; Davis, C.; Davis, G.; Davis, M.; Everson, G.; Felizarta, F.; Flamm, S.; Freilich, B.; Galati, J.; Galler, G.; Ghalib, R.; Gibas, A.; Godofsky, E.; Gordon, F.; Gordon, S.; Gross, J.; Harrison, S.; Herrera, J.; Herrine, S.; Hu, K. Q.; Imperial, J.; Jacobson, I.; Jones, D.; Kilby, A.; King, J.; Koch, A.; Kowdley, K.; Krawitt, E.; Kwo, P.; Lambiase, L.; Lawitz, E.; Lee, W.; Levin, J.; Li, X.; Lok, A.; Luketic, V.; Mailliard, M.; McCone, J.; McHutchison, J.; Mikolich, D.; Morgan, T.; Muir, A.; Nelson, D.; Nunes, F.; Nyberg, A.; Nyberg, L.; Pandya, P.; Pauly, M.; Peine, C.; Poleynard, G.; Pound, D.; Poulos, J.; Rabinovitz, M.; Ravendhran, N.; Ready, J.; Reddy, K.; Reindollar, R.; Reuben, A.; Riley, T.; Rossaro, L.; Rubin, R.; Ryan, M.; Santoro, J.; Schiff, E.; Sepe, T.; Sherman, K.; Shiffman, M.; Sjogren, M.; Sjogren, R.; Smith, C.; Stein, L.; Strauss, R.; Sulkowski, M.; Szyjkowski, R.; Vargas, H.; Vierling, J.; Witt, D.; Yapp, R.; Younes, Z.; Goodman, Z. |
| Contributors: |
Sulkowski, M. S.; Poordad, F.; Manns, M. P.; Bronowicki, J. P.; Reddy, K. R.; Harrison, S. A.; Afdhal, N. H.; Sings, H. L.; Pedicone, L. D.; Koury, K. J.; Sniukiene, V.; Burroughs, M. H.; Albrecht, J. K.; Brass, C. A.; Jacobson, I. M.; Colombato, L.; Curciarello, J.; Silva, M.; Tanno, H.; Terg, R.; Adler, M.; Langlet, P.; Lasser, L.; Nevens, F.; Anderson, F.; Bailey, R.; Bilodeau, M.; Cooper, C.; Feinman, S. V.; Heathcote, J.; Levstik, M.; Ramji, A.; Sherman, M.; Shafran, S.; Yoshida, E.; Achim, A.; Ali, S. B.; Bigard, M. A.; Bonny, C.; Bourliere, M.; Boyer-Darrigrand, N.; Canva, V.; Couzigou, P.; De Ledinghen, V.; Guyader, D.; Hezode, C.; Larrey, D.; Latournerie, M.; Marcellin, P.; Mathurin, P.; Maynard-Muet, M.; Moussalli, J.; Poupon, R.; Poynard, T.; Serfaty, L.; Tran, A.; Trepo, C.; Truchi, R.; Zarski, J. P.; Berg, T.; Dikopoulos, N.; Eisenbach, C.; Galle, P. R.; Gerken, G.; Goeser, T.; Gregor, M.; Klass, D.; Kraus, M. R.; Niederau, C.; Schlaak, J. F.; Schmid, R.; Thies, P.; Schmidt, K.; Thimme, R.; Weidenbach, H.; Zeuzem, S.; Angelico, M.; Bruno, S.; Carosi, G.; Craxi, A.; Mangia, A.; Pirisi, M.; Rizzetto, M.; Taliani, G.; Zignego, A. L.; Reesink, H.; Serejo, F.; Reymunde, A.; Rosado, B.; Torres, E.; Marugan, R. B.; De La Mata, M.; Calleja, J. L. |