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High-Coverage AMS Test Space Optimization by Efficient Parametric Test Condition Generation

Title: High-Coverage AMS Test Space Optimization by Efficient Parametric Test Condition Generation
Authors: Neubauer, Felix; Burchard, Jan; Raiola, Pascal; Rivoir, Jochen; Becker, Bernd; Sauer, Matthias
Publication Year: 2018
Collection: University of Freiburg: FreiDok
Document Type: conference object
Language: English
Relation: https://freidok.uni-freiburg.de/data/143947
Availability: https://freidok.uni-freiburg.de/data/143947
Accession Number: edsbas.7BA7464F
Database: BASE