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A Dual-Gate Memory Cell with Two Inter-Poly Oxides

Title: A Dual-Gate Memory Cell with Two Inter-Poly Oxides
Authors: Raguet, Jean-René; Calenzo, Patrick; Laffont, Romain; Deleruyelle, Damien; Bouchakour, Rachid; Bidal, Virginie; Regnier, Arnaud; Niel, Stephan; Fornara, Pascal; Mirabel, Jean-Michel
Contributors: STMicroelectronics Rousset (ST-ROUSSET); Institut des Matériaux, de Microélectronique et des Nanosciences de Provence (IM2NP); Aix Marseille Université (AMU)-Université de Toulon (UTLN)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS); INL - Electronique (INL - ELEC); Institut des Nanotechnologies de Lyon (INL); École Centrale de Lyon (ECL); Université de Lyon-Université de Lyon-Université Claude Bernard Lyon 1 (UCBL); Université de Lyon-École Supérieure de Chimie Physique Électronique de Lyon (CPE)-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon); Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-École Centrale de Lyon (ECL); Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS); INL - Dispositifs Electroniques (INL - DE); Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon); Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA); STMicroelectronics Crolles (ST-CROLLES)
Source: ISSN: 0021-4922 ; Japanese Journal of Applied Physics ; https://hal.science/hal-05006735 ; Japanese Journal of Applied Physics, 2009, 48 (4S), pp.04C058. ⟨10.1143/JJAP.48.04C058⟩.
Publisher Information: CCSD; Japan Society of Applied Physics
Publication Year: 2009
Collection: Université de Toulon: HAL
Subject Terms: [SPI]Engineering Sciences [physics]
Description: International audience
Document Type: article in journal/newspaper
Language: English
DOI: 10.1143/JJAP.48.04C058
Availability: https://hal.science/hal-05006735; https://doi.org/10.1143/JJAP.48.04C058
Accession Number: edsbas.8419C268
Database: BASE