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Integration density of ion-damaged barrier Josephson junction and circuits

Title: Integration density of ion-damaged barrier Josephson junction and circuits
Authors: Crété, D.; Lemaître, Y.; Trastoy, J.; Marcilhac, B.; Ulysse, C.
Source: Journal of Physics: Conference Series ; volume 1182, page 012002 ; ISSN 1742-6588 1742-6596
Publisher Information: IOP Publishing
Publication Year: 2019
Document Type: article in journal/newspaper
Language: unknown
DOI: 10.1088/1742-6596/1182/1/012002
Availability: https://doi.org/10.1088/1742-6596/1182/1/012002; http://stacks.iop.org/1742-6596/1182/i=1/a=012002/pdf; http://stacks.iop.org/1742-6596/1182/i=1/a=012002?key=crossref.6178bdd9adccd7f819cc093fc13fbe07
Rights: http://iopscience.iop.org/info/page/text-and-data-mining ; http://creativecommons.org/licenses/by/3.0/
Accession Number: edsbas.849CF248
Database: BASE