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Performance and Reliability Modeling of AlGaN/GaN Hetero-junction Field Effect Transistors.

Title: Performance and Reliability Modeling of AlGaN/GaN Hetero-junction Field Effect Transistors.
Authors: Schimizzi, Ryan
Contributors: Robert Trew, Chair; Griff Bilbro, Co-Chair; Brian Floyd, Member; Zhilin Li, Member
Publication Year: 2012
Collection: North Carolina State University Libraries (NCSU): Digital Repository
Document Type: other/unknown material
Language: unknown
Relation: deg1898; http://www.lib.ncsu.edu/resolver/1840.16/7975
Availability: http://www.lib.ncsu.edu/resolver/1840.16/7975
Accession Number: edsbas.8756FFDF
Database: BASE