| Contributors: |
Schael, S.; Barate, R.; Bruneliere, R.; De Bonis, I.; Decamp, D.; Goy, C.; Jezequel, S.; Lees, J. P.; Martin, F.; Merle, E.; Minard, M. N.; Pietrzyk, B.; Trocme, B.; Bravo, S.; Casado, M. P.; Chmeissani, M.; Crespo, J. M.; Fernandez, E.; Fernandez Bosman, M.; Garrido, L.; Martinez, M.; Pacheco, A.; Ruiz, H.; Colaleo, A.; Creanza, D.; De Filippis, N.; De Palma, M.; Iaselli, G.; Maggi, G.; Maggi, M.; Nuzzo, S.; Ranieri, A.; Raso, G.; Ruggieri, F.; Selvaggi, G.; Silvestris, L.; Tempesta, P.; Tricomi, A.; Zito, G.; Huang, X.; Lin, J.; Ouyang, Q.; Wang, T.; Xie, Y.; Xu, R.; Xue, S.; Zhang, J.; Zhang, L.; Zhao, W.; Abbaneo, D.; Barklow, T.; Buchmueller, O.; Cattaneo, M.; Clerbaux, B.; Drevermann, H.; Forty, R. W.; Frank, M.; Gianotti, F.; Hansen, J. B.; Harvey, J.; Hutchcroft, D. E.; Janot, P.; Jost, B.; Kado, M.; Mato, P.; Moutoussi, A.; Ranjard, F.; Rolandi, Luigi; Schlatter, D.; Teubert, F.; Valassi, A.; Videau, I.; Badaud, F.; Dessagne, S.; Falvard, A.; Fayolle, D.; Gay, P.; Jousset, J.; Michel, B.; Monteil, S.; Pallin, D.; Pascolo, J. M.; Perret, P.; Hansen, J. D.; Hansen, J. R.; Hansen, P. H.; Kraan, A. C.; Nilsson, B. S.; Kyriakis, A.; Markou, C.; Simopoulou, E.; Vayaki, A.; Zachariadou, K.; Blondel, A.; Brient, J. C.; Machefert, F.; Rouge, A.; Videau, H.; Ciulli, V.; Focardi, E. |