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Précision de l'instrumentation pour les mesures du diagramme de rayonnement on-wafer en bande millimétrique

Title: Précision de l'instrumentation pour les mesures du diagramme de rayonnement on-wafer en bande millimétrique
Authors: Lé, João, E G; Ferrari, Philippe; Serrano, Ariana, L C; Rehder, Gustavo, P
Contributors: Reliable RF and Mixed-signal Systems (TIMA-RMS); Techniques de l'Informatique et de la Microélectronique pour l'Architecture des systèmes intégrés (TIMA); Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Grenoble Alpes (UGA)-Institut polytechnique de Grenoble - Grenoble Institute of Technology (Grenoble INP); Université Grenoble Alpes (UGA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Grenoble Alpes (UGA)-Institut polytechnique de Grenoble - Grenoble Institute of Technology (Grenoble INP); Université Grenoble Alpes (UGA); Escola Politécnica Universidade de São Paulo (POLI-USP); Universidade de São Paulo = University of São Paulo (USP)
Source: 23ème édition des Journées Nationales Microondes (JNM); https://hal.science/hal-05253249; 23ème édition des Journées Nationales Microondes (JNM), Jun 2024, Antibes Juan-Les-Pins, France
Publisher Information: CCSD
Publication Year: 2024
Collection: Université Grenoble Alpes: HAL
Subject Terms: [SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics
Subject Geographic: Antibes Juan-Les-Pins; France
Description: International audience ; Cet article décrit une procédure d'auto-test pour les systèmes de mesure d'antennes en champ lointain en bande millimétrique. La méthodologie proposée implique l'analyse de la précision des instruments et des mouvements. Le système de caractérisation d'antennes développé au Centre des ondes millimétriques de l'Université de São Paulo est décrit, les résultats de l'analyse de la précision sont présentés. Il s'avère que l'instrumentation constitue la principale source d'erreur, avec une précision du diagramme de rayonnement estimée à moins de 0,2 dB pour les points mesurés entre 50 GHz et 70 GHz.
Document Type: conference object
Language: English
Availability: https://hal.science/hal-05253249
Accession Number: edsbas.B196F419
Database: BASE