| Contributors: |
Mcgale, P.; Taylor, C.; Correa, C.; Cutter, D.; Duane, F.; Ewertz, M.; Gray, R.; Mannu, G.; Peto, R.; Whelan, T.; Wang, Y.; Wang, Z.; Darby, S.; Albain, K.; Anderson, S.; Arriagada, R.; Barlow, W.; Bergh, J.; Bergsten Nordström, E.; Bliss, J.; Burrett, J. A.; Buyse, M.; Cameron, D.; Carrasco, E.; Clarke, M.; Coleman, R.; Coates, A.; Collins, R.; Costantino, J.; Cuzick, J.; Davidson, N.; Davies, C.; Davies, K.; Delmestri, A.; Di Leo, A.; Dowsett, M.; Elphinstone, P.; Evans, V.; Forbes, J.; Gelber, R.; Gettins, L.; Geyer, C.; Gianni, L.; Gnant, M.; Goldhirsch, A.; Godwin, J.; Gregory, C.; Hayes, D.; Hill, C.; Ingle, J.; Jakesz, R.; James, S.; Janni, W.; Kaufmann, M.; Kerr, A.; Liu, H.; Mackinnon, E.; Martín, M.; Mchugh, T.; Morris, P.; Norton, L.; Ohashi, Y.; Paik, S.; Pan, H. C.; Perez, E.; Piccart, M.; Pierce, L.; Pritchard, K.; Pruneri, G.; Raina, V.; Ravdin, P.; Robertson, J.; Rutgers, E.; Shao, Y. F.; Sparano, J.; Swain, S.; Valagussa, P.; Viale, G.; Von Minckwitz, G.; Winer, E.; Wiang, X.; Wood; W., Abe O; Abe, R; Enomoto, K; Kikuchi, K; Koyama, H; Masuda, H; Nomura, Y; Ohashi, Y |