| Contributors: |
Locke, A. E.; Kahali, B.; Berndt, S. I.; Justice, A. E.; Pers, T. H.; Day, F. R.; Powell, C.; Vedantam, S.; Buchkovich, M. L.; Yang, J.; Croteau-Chonka, D. C.; Esko, T.; Fall, T.; Ferreira, T.; Gustafsson, S.; Kutalik, Z.; Luan, J.; Mägi, R.; Randall, J. C.; Winkler, T. W.; Wood, A. R.; Workalemahu, T.; Faul, J. D.; Smith, J. A.; Zhao, J. H.; Zhao, W.; Chen, J.; Fehrmann, R.; Hedman, Å. K.; Karjalainen, J.; Schmidt, E. M.; Absher, D.; Amin, N.; Anderson, D.; Beekman, M.; Bolton, J. L.; Bragg-Gresham, J. L.; Buyske, S.; Demirkan, A.; Deng, G.; Ehret, G. B.; Feenstra, B.; Feitosa, M. F.; Fischer, K.; Goel, A.; Gong, J.; Jackson, A. U.; Kanoni, S.; Kleber, M. E.; Kristiansson, K.; Lim, U.; Lotay, V.; Mangino, M.; Leach, I. M.; Medina-Gomez, C.; Medland, S. E.; Nalls, M. A.; Palmer, C. D.; Pasko, D.; Pechlivanis, S.; Peters, M. J.; Prokopenko, I.; Shungin, D.; Stančáková, A.; Strawbridge, R. J.; Sung, Y. J.; Tanaka, T.; Teumer, A.; Trompet, S.; van der Laan, S. W.; van Setten, J.; Van Vliet-Ostaptchouk, J. V.; Wang, Z.; Yengo, L.; Zhang, W.; Isaacs, A.; Albrecht, E.; Ärnlöv, J.; Arscott, G. M.; Attwood, A. P.; Bandinelli, S.; Barrett, A.; Bas, I. N.; Bellis, C.; Bennett, A. J.; Berne, C.; Blagieva, R.; Blüher, M.; Böhringer, S.; Bonnycastle, L. L.; Böttcher, Y.; Boyd, H. A.; Bruinenberg, M.; Caspersen, I. H.; Chen, Y. I.; Clarke, R.; Daw, E. W.; de Craen, A. J. M.; Delgado, G.; Dimitriou, M. |