Katalog Plus
Bibliothek der Frankfurt UAS
Bald neuer Katalog: sichern Sie sich schon vorab Ihre persönlichen Merklisten im Nutzerkonto: Anleitung.
Dieses Ergebnis aus BASE kann Gästen nicht angezeigt werden.  Login für vollen Zugriff.

Precision measurement of the (e++e-) flux in primary cosmic rays from 0.5 GeV to 1 TeV with the alpha magnetic spectrometer on the international space station

Title: Precision measurement of the (e++e-) flux in primary cosmic rays from 0.5 GeV to 1 TeV with the alpha magnetic spectrometer on the international space station
Authors: Aguilar, M.; Aisa, D.; Alpat, B.; Alvino, A.; Ambrosi, G.; Andeen, K.; Arruda, L.; Attig, N.; Azzarello, P.; Bachlechner, A.; Barao, F.; Barrau, A.; Barrin, L.; Bartoloni, A.; Basara, L.; Battarbee, M.; Battiston, R.; Bazo, J.; Becker, U.; Behlmann, M.; Beischer, B.; Berdugo, J.; Bertucci, B.; BIGONGIARI, GABRIELE; Bindi, V.; Bizzaglia, S.; Bizzarri, M.; Boella, G.; De Boer, W.; Bollweg, K.; Bonnivard, V.; Borgia, B.; Borsini, S.; Boschini, M. J.; Bourquin, M.; Burger, J.; Cadoux, F.; Cai, X. D.; Capell, M.; Caroff, S.; Casaus, J.; Cascioli, V.; Castellini, G.; Cernuda, I.; Cervelli, F.; Chae, M. J.; Chang, Y. H.; Chen, A. I.; Chen, H.; Cheng, G. M.; Chen, H. S.; Cheng, L.; Chikanian, A.; Chou, H. Y.; Choumilov, E.; Choutko, V.; Chung, C. H.; Clark, C.; Clavero, R.; Coignet, G.; Consolandi, C.; Contin, A.; Corti, C.; Coste, B.; Crispoltoni, M.; Cui, Z.; Dai, M.; Delgado, C.; Della Torre, S.; Demirköz, M. B.; Derome, L.; Di Falco, S.; Di Masso, L.; Dimiccoli, F.; Díaz, C.; Von Doetinchem, P.; Donnini, F.; Du, W. J.; Duranti, M.; D'Urso, D.; Eline, A.; Eppling, F. J.; Eronen, T.; Fan, Y. Y.; Farnesini, L.; Feng, J.; Fiandrini, E.; Fiasson, A.; Finch, E.; Fisher, P.; Galaktionov, Y.; Gallucci, G.; García, B.; García López, R.; Gargiulo, C.; Gast, H.; Gebauer, I.; Gervasi, M.; Ghelfi, A.; Gillard, W.; Giovacchini, F.; Goglov, P.; Gong, J.; Goy, C.; Grabski, V.; Grandi, D.; Graziani, M.; Guandalini, C.; Guerri, I.; Guo, K. H.; Habiby, M.; Haino, S.; Han, K. C.; He, Z. H.; Heil, M.; Hoffman, J.; Hsieh, T. H.; Huang, Z. C.; Huh, C.; Incagli, M.; Ionica, M.; Jang, W. Y.; Jinchi, H.; Kanishev, K.; Kim, G. N.; Kim, K. S.; Kirn, T.h.; Kossakowski, R.; Kounina, O.; Kounine, A.; Koutsenko, V.; Krafczyk, M. S.; Kunz, S.; La Vacca, G.; Laudi, E.; Laurenti, G.; Lazzizzera, I.; Lebedev, A.; Lee, H. T.; Lee, S. C.; Leluc, C.; Li, H. L.; Li, J. Q.; Li, Q.; Li, T. X.; Li, W.; Li, Y.; Li, Z. H.; Li, Z. Y.; Lim, S.; Lin, C. H.; Lipari, P.; Lippert, T.; Liu, D.; Liu, H.; Lomtadze, T.; Lu, M. J.; Lu, Y. S.; Luebelsmeyer, K.; Luo, F.; Luo, J. Z.; Lv, S. S.; Majka, R.; Malinin, A.; Mañá, C.; Marín, J.; Martin, T.; Martínez, G.; Masi, N.; Maurin, D.; Menchaca Rocha, A.; Meng, Q.; Mo, D. C.; Morescalchi, L.; Mott, P.; Müller, M.; Ni, J. Q.; Nikonov, N.; Nozzoli, F.; Nunes, P.; Obermeier, A.; Oliva, A.; Orcinha, M.; Palmonari, F.; Palomares, C.; Paniccia, M.; Papi, A.; Pauluzzi, M.; Pedreschi, E.; Pensotti, S.; Pereira, R.; Pilo, F.; Piluso, A.; Pizzolotto, C.; Plyaskin, V.; Pohl, M.; Poireau, V.; Postaci, E.; Putze, A.; Quadrani, L.; Qi, X. M.; Räihä, T.; Rancoita, P. G.; Rapin, D.; Ricol, J. S.; Rodríguez, I.; Rosier Lees, S.; Rozhkov, A.; Rozza, D.; Sagdeev, R.; Sandweiss, J.; Saouter, P.; Sbarra, C.; Schael, S.; Schmidt, S. M.; Schuckardt, D.; Schulz Von Dratzig, A.; Schwering, G.; Scolieri, G.; Seo, E. S.; Shan, B. S.; Shan, Y. H.; Shi, J. Y.; Shi, X. Y.; Shi, Y. M.; Siedenburg, T.; Son, D.; Spada, F.; Spinella, F.; Sun, W.; Sun, W. H.; Tacconi, M.; Tang, C. P.; Tang, X. W.; Tang, Z. C.; Tao, L.; Tescaro, D.; Ting, Samuel C. C.; Ting, S. M.; Tomassetti, N.; Torsti, J.; Türkoʇlu, C.; Urban, T.; Vagelli, V.; Valente, E.; Vannini, C.; Valtonen, E.; Vaurynovich, S.; Vecchi, M.; Velasco, M.; Vialle, J. P.; Wang, L. Q.; Wang, Q. L.; Wang, R. S.; Wang, X.; Wang, Z. X.; Weng, Z. L.; Whitman, K.; Wienkenhöver, J.; Wu, H.; Xia, X.; Xie, M.; Xie, S.; Xiong, R. Q.; Xin, G. M.; Xu, N. S.; Xu, W.; Yan, Q.; Yang, J.; Yang, M.; Ye, Q. H.; Yi, H.; Yu, Y. J.; Yu, Z. Q.; Zeissler, S.; Zhang, J. H.; Zhang, M. T.; Zhang, X. B.; Zhang, Z.; Zheng, Z. M.; Zhuang, H. L.; Zhukov, V.; Zichichi, A.; Zimmermann, N.; Zuccon, P.; Zurbach, C.
Contributors: Aguilar, M.; Aisa, D.; Alpat, B.; Alvino, A.; Ambrosi, G.; Andeen, K.; Arruda, L.; Attig, N.; Azzarello, P.; Bachlechner, A.; Barao, F.; Barrau, A.; Barrin, L.; Bartoloni, A.; Basara, L.; Battarbee, M.; Battiston, R.; Bazo, J.; Becker, U.; Behlmann, M.; Beischer, B.; Berdugo, J.; Bertucci, B.; Bigongiari, Gabriele; Bindi, V.; Bizzaglia, S.; Bizzarri, M.; Boella, G.; De Boer, W.; Bollweg, K.; Bonnivard, V.; Borgia, B.; Borsini, S.; Boschini, M. J.; Bourquin, M.; Burger, J.; Cadoux, F.; Cai, X. D.; Capell, M.; Caroff, S.; Casaus, J.; Cascioli, V.; Castellini, G.; Cernuda, I.; Cervelli, F.; Chae, M. J.; Chang, Y. H.; Chen, A. I.; Chen, H.; Cheng, G. M.; Chen, H. S.; Cheng, L.; Chikanian, A.; Chou, H. Y.; Choumilov, E.; Choutko, V.; Chung, C. H.; Clark, C.; Clavero, R.; Coignet, G.; Consolandi, C.; Contin, A.; Corti, C.; Coste, B.; Crispoltoni, M.; Cui, Z.; Dai, M.; Delgado, C.; Della Torre, S.; Demirköz, M. B.; Derome, L.; Di Falco, S.; Di Masso, L.; Dimiccoli, F.; Díaz, C.; Von Doetinchem, P.; Donnini, F.; Du, W. J.; Duranti, M.; D'Urso, D.; Eline, A.; Eppling, F. J.; Eronen, T.; Fan, Y. Y.; Farnesini, L.; Feng, J.; Fiandrini, E.; Fiasson, A.; Finch, E.; Fisher, P.; Galaktionov, Y.; Gallucci, G.; García, B.; García López, R.; Gargiulo, C.; Gast, H.; Gebauer, I.; Gervasi, M.; Ghelfi, A.; Gillard, W.
Publication Year: 2014
Collection: Università degli Studi di Siena: USiena air
Subject Terms: Physics and Astronomy (all)
Description: A precision measurement by AMS of the positron fraction in primary cosmic rays in the energy range from 0.5 to 500 GeV based on 10.9 million positron and electron events is presented. This measurement extends the energy range of our previous observation and increases its precision. The new results show, for the first time, that above ∼200 GeV the positron fraction no longer exhibits an increase with energy.
Document Type: article in journal/newspaper
File Description: ELETTRONICO
Language: English
Relation: info:eu-repo/semantics/altIdentifier/pmid/25494065; info:eu-repo/semantics/altIdentifier/wos/WOS:000350657700005; volume:113; issue:22; journal:PHYSICAL REVIEW LETTERS; http://hdl.handle.net/11365/981933; http://harvest.aps.org/bagit/articles/10.1103/PhysRevLett.113.221102/apsxml
DOI: 10.1103/PhysRevLett.113.221102
DOI: 10.1103/PhysRevLett.113.221102/apsxml
Availability: http://hdl.handle.net/11365/981933; https://doi.org/10.1103/PhysRevLett.113.221102; http://harvest.aps.org/bagit/articles/10.1103/PhysRevLett.113.221102/apsxml
Rights: info:eu-repo/semantics/openAccess
Accession Number: edsbas.C7597063
Database: BASE