| Contributors: |
Wain, L. V.; Verwoert, G. C.; O'Reilly, P. F.; Shi, G.; Johnson, T.; Johnson, A. D.; Bochud, M.; Rice, K. M.; Henneman, P.; Smith, A. V.; Ehret, G. B.; Amin, N.; Larson, M. G.; Mooser, V.; Hadley, D.; Dorr, M.; Bis, J. C.; Aspelund, T.; Esko, T.; Janssens, A. C.; Zhao, J. H.; Heath, S.; Laan, M.; Fu, J.; Pistis, G.; Luan, J.; Arora, P.; Lucas, G.; Pirastu, N.; Pichler, I.; Jackson, A. U.; Webster, R. J.; Zhang, F.; Peden, J. F.; Schmidt, H.; Tanaka, T.; Campbell, H.; Igl, W.; Milaneschi, Y.; Hottenga, J. J.; Vitart, V.; Chasman, D. I.; Trompet, S.; Bragg-Gresham, J. L.; Alizadeh, B. Z.; Chambers, J. C.; Guo, X.; Lehtimaki, T.; Kuhnel, B.; Lopez, L. M.; Polasek, O.; Boban, M.; Nelson, C. P.; Morrison, A. C.; Pihur, V.; Ganesh, S. K.; Hofman, A.; Kundu, S.; Mattace-Raso, F. U.; Rivadeneira, F.; Sijbrands, E. J.; Uitterlinden, A. G.; Hwang, S. J.; Vasan, R. S.; Wang, T. J.; Bergmann, S.; Vollenweider, P.; Waeber, G.; Laitinen, J.; Pouta, A.; Zitting, P.; Mcardle, W. L.; Kroemer, H. K.; Volker, U.; Volzke, H.; Glazer, N. L.; Taylor, K. D.; Harris, T. B.; Alavere, H.; Haller, T.; Keis, A.; Tammesoo, M. L.; Aulchenko, Y.; Barroso, I.; Khaw, K. T.; Galan, P.; Hercberg, S.; Lathrop, M.; Eyheramendy, S.; Org, E.; Sober, S.; Lu, X.; Nolte, I. M.; Penninx, B. W.; Corre, T.; Masciullo, C.; Sala, C.; Groop, L.; Voight, B. F.; Melander, O. |