| Contributors: |
Berger, A. C.; Korkut, A.; Kanchi, R. S.; Hegde, A. M.; Lenoir, W.; Liu, W.; Liu, Y.; Fan, H.; Shen, H.; Ravikumar, V.; Rao, A.; Schultz, A.; Li, X.; Sumazin, P.; Williams, C.; Mestdagh, P.; Gunaratne, P. H.; Yau, C.; Bowlby, R.; Robertson, A. G.; Tiezzi, D. G.; Wang, C.; Cherniack, A. D.; Godwin, A. K.; Kuderer, N. M.; Rader, J. S.; Zuna, R. E.; Sood, A. K.; Lazar, A. J.; Ojesina, A. I.; Adebamowo, C.; Adebamowo, S. N.; Baggerly, K. A.; Chen, T. -W.; Chiu, H. -S.; Lefever, S.; Liu, L.; Mackenzie, K.; Orsulic, S.; Roszik, J.; Shelley, C. S.; Song, Q.; Vellano, C. P.; Wentzensen, N.; Caesar-Johnson, S. J.; Demchok, J. A.; Felau, I.; Kasapi, M.; Ferguson, M. L.; Hutter, C. M.; Sofia, H. J.; Tarnuzzer, R.; Wang, Z.; Yang, L.; Zenklusen, J. C.; Zhang, J. J.; Chudamani, S.; Liu, J.; Lolla, L.; Naresh, R.; Pihl, T.; Sun, Q.; Wan, Y.; Wu, Y.; Cho, J.; Defreitas, T.; Frazer, S.; Gehlenborg, N.; Getz, G.; Heiman, D. I.; Kim, J.; Lawrence, M. S.; Lin, P.; Meier, S.; Noble, M. S.; Saksena, G.; Voet, D.; Zhang, H.; Bernard, B.; Chambwe, N.; Dhankani, V.; Knijnenburg, T.; Kramer, R.; Leinonen, K.; Miller, M.; Reynolds, S.; Shmulevich, I.; Thorsson, V.; Zhang, W.; Akbani, R.; Broom, B. M.; Ju, Z.; Li, J.; Liang, H.; Ling, S.; Lu, Y.; Mills, G. B.; Ng, K. -S.; Ryan, M.; Wang, J. |