| Contributors: |
Rheinbay, E.; Nielsen, M. M.; Abascal, F.; Wala, J. A.; Shapira, O.; Tiao, G.; Hornshoj, H.; Hess, J. M.; Juul, R. I.; Lin, Z.; Feuerbach, L.; Sabarinathan, R.; Madsen, T.; Kim, J.; Mularoni, L.; Shuai, S.; Lanzos, A.; Herrmann, C.; Maruvka, Y. E.; Shen, C.; Amin, S. B.; Bandopadhayay, P.; Bertl, J.; Boroevich, K. A.; Busanovich, J.; Carlevaro-Fita, J.; Chakravarty, D.; Chan, C. W. Y.; Craft, D.; Dhingra, P.; Diamanti, K.; Fonseca, N. A.; Gonzalez-Perez, A.; Guo, Q.; Hamilton, M. P.; Haradhvala, N. J.; Hong, C.; Isaev, K.; Johnson, T. A.; Juul, M.; Kahles, A.; Kahraman, A.; Kim, Y.; Komorowski, J.; Kumar, K.; Kumar, S.; Lee, D.; Lehmann, K. -V.; Li, Y.; Liu, E. M.; Lochovsky, L.; Park, K.; Pich, O.; Roberts, N. D.; Saksena, G.; Schumacher, S. E.; Sidiropoulos, N.; Sieverling, L.; Sinnott-Armstrong, N.; Stewart, C.; Tamborero, D.; Tubio, J. M. C.; Umer, H. M.; Uuskula-Reimand, L.; Wadelius, C.; Wadi, L.; Yao, X.; Zhang, C. -Z.; Zhang, J.; Haber, J. E.; Hobolth, A.; Imielinski, M.; Kellis, M.; Lawrence, M. S.; von Mering, C.; Nakagawa, H.; Raphael, B. J.; Rubin, M. A.; Sander, C.; Stein, L. D.; Stuart, J. M.; Tsunoda, T.; Wheeler, D. A.; Johnson, R.; Reimand, J.; Gerstein, M.; Khurana, E.; Campbell, P. J.; Lopez-Bigas, N.; Weischenfeldt, J.; Beroukhim, R.; Martincorena, I.; Pedersen, J. S.; Getz, G.; Bader, G. D.; Barenboim, J.; Brunak, S.; Chen, K.; Choi, J. K.; Deu-Pons, J. |