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Security and Integrity in Embedded Systems ; Sécurité et intégrité dans un Contexte Embarqué

Title: Security and Integrity in Embedded Systems ; Sécurité et intégrité dans un Contexte Embarqué
Authors: Lapeyre, Sébastien; Valette, Nicolas; Merandat, Marc; Flottes, Marie-Lise; Rouzeyre, Bruno; Virazel, Arnaud
Contributors: INVIA; Test and dEpendability of microelectronic integrated SysTems (TEST); Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier (LIRMM); Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
Source: 15e Colloque National du GDR SoC²; https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-03361957; 15e Colloque National du GDR SoC², Jun 2021, Rennes, France
Publisher Information: CCSD
Publication Year: 2021
Collection: Université de Montpellier: HAL
Subject Terms: Sureté; Sécurité; Capteurs Analogues; tests; Autotests; JTAG; authentification défi-réponse; cryptographie légère; [INFO.INFO-AR]Computer Science [cs]/Hardware Architecture [cs.AR]
Subject Geographic: Rennes; France
Description: National audience ; Lors du design d'un circuit intégré, il est nécessaire d'implémenter des fonctionnalités complémentaires de tests et sécuritaires pour assurer la qualité, la fiabilité et la sécurité. Nos travaux ont pour optique d'être implémentés dans des systèmes embarqués avec comme forte contrainte d'être le plus petit possible en termes de surface utilisée. Dans ce papier nous présentons une solution de test pour des capteurs analogiques à vocation sécuritaire, ainsi qu'une méthode d'authentification permettant de protéger l'accès à une infrastructure de test, le JTAG.
Document Type: conference object; still image
Language: French
Availability: https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-03361957; https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-03361957v1/document; https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-03361957v1/file/SecuriteEtIntegriteDansUnContexteEmbarque_VF.pdf
Rights: info:eu-repo/semantics/OpenAccess
Accession Number: edsbas.F32392FF
Database: BASE