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Performances dynamiques des transistors FLYMOSTM 65 Volts à canal N

Title: Performances dynamiques des transistors FLYMOSTM 65 Volts à canal N
Authors: L. Théolier; K. Isoird; H. Tr; F. Morancho; J. Roig; Y. Weber; E. N. Stefanov; J-m. Reynès; I. Introduction
Contributors: The Pennsylvania State University CiteSeerX Archives
Source: http://hal-ups-tlse.archives-ouvertes.fr/docs/01/00/22/55/PDF/Performances_dynamiques_des_transistors_FLYMOS_65Volts_A_canal_N.pdf.
Collection: CiteSeerX
Description: Résumé: Dans ce papier, un transistor FLYMOS ™ 65V est caractérisé en commutation pour la première fois dans le but d’être comparé à un transistor VDMOS conventionnel. Il s’avère que les mesures de capacités inter-électrodes et de gate charge des deux composants sont comparables. Une étude comparative, à l’aide de simulations 2D, de deux structures de même tenue en tension nous a permis de conforter ces résultats, confirmant l’hypothèse que l’insertion d’îlot flottants n’entraînait pas de phénomène parasite ou nouveau, dans le cas d’îlots faiblement dopés.
Document Type: text
File Description: application/pdf
Language: English
Relation: http://citeseerx.ist.psu.edu/viewdoc/summary?doi=10.1.1.635.6790
Availability: http://citeseerx.ist.psu.edu/viewdoc/summary?doi=10.1.1.635.6790; http://hal-ups-tlse.archives-ouvertes.fr/docs/01/00/22/55/PDF/Performances_dynamiques_des_transistors_FLYMOS_65Volts_A_canal_N.pdf
Rights: Metadata may be used without restrictions as long as the oai identifier remains attached to it.
Accession Number: edsbas.F9E8985F
Database: BASE