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An Improved Analysis of E-Waste Risk Identification and Handling of Recycling Management using Machine Learning

Title: An Improved Analysis of E-Waste Risk Identification and Handling of Recycling Management using Machine Learning
Authors: Pant, Ruby; Bisht, Deepa
Source: 2023 IEEE International Conference on Integrated Circuits and Communication Systems (ICICACS) Integrated Circuits and Communication Systems (ICICACS), 2023 IEEE International Conference on. :01-06 Feb, 2023
Relation: 2023 IEEE International Conference on Integrated Circuits and Communication Systems (ICICACS)
Database: IEEE Xplore Digital Library