Katalog Plus
Bibliothek der Frankfurt UAS
Bald neuer Katalog: sichern Sie sich schon vorab Ihre persönlichen Merklisten im Nutzerkonto: Anleitung.
Dieses Ergebnis aus IEEE Xplore Digital Library kann Gästen nicht angezeigt werden.  Login für vollen Zugriff.

A Novel Model for Stress Detection and Management using Machine Learning

Title: A Novel Model for Stress Detection and Management using Machine Learning
Authors: Agarwal, Aditi; Goel, Astha; Sharma, Shristy; Jain, Soniya; Dwivedi, Mani; Kumar, Deep
Source: 2023 International Conference on Disruptive Technologies (ICDT) Disruptive Technologies (ICDT), 2023 International Conference on. :562-570 May, 2023
Relation: 2023 International Conference on Disruptive Technologies (ICDT)
Database: IEEE Xplore Digital Library