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Millimeter-Wave On-Wafer Large Signal Characterization System for Harmonic Source/Load Pull and Waveform Measurements

Title: Millimeter-Wave On-Wafer Large Signal Characterization System for Harmonic Source/Load Pull and Waveform Measurements
Authors: Baddeley, Alexander; Woodington, Simon; Gecan, Dragan; Sheikh, Aamir; Lunn, Jamie; Tasker, Paul; Quaglia, Roberto
Source: 2023 IEEE/MTT-S International Microwave Symposium - IMS 2023 Microwave Symposium - IMS 2023, 2023 IEEE/MTT-S International. :1101-1104 Jun, 2023
Relation: 2023 IEEE/MTT-S International Microwave Symposium - IMS 2023
Database: IEEE Xplore Digital Library