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Technology-Aware Drift Resilience Analysis of RRAM Crossbar Array Configurations

Title: Technology-Aware Drift Resilience Analysis of RRAM Crossbar Array Configurations
Authors: Reiser, Daniel; Reichenbach, Marc; Rizzi, Tommaso; Baroni, Andrea; Fritscher, Markus; Wenger, Christian; Zambelli, Cristian; Bertozzi, Davide
Source: 2023 21st IEEE Interregional NEWCAS Conference (NEWCAS) Interregional NEWCAS Conference (NEWCAS), 2023 21st IEEE. :1-5 Jun, 2023
Relation: 2023 21st IEEE Interregional NEWCAS Conference (NEWCAS)
Database: IEEE Xplore Digital Library