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Essential Steps to Enable Analyzing Effective Resistance of ESD Paths-PG Routing Network Pruning and Resistance Contribution by Layer

Title: Essential Steps to Enable Analyzing Effective Resistance of ESD Paths-PG Routing Network Pruning and Resistance Contribution by Layer
Authors: Feng, Frank; Huang, Abner; Huang, Joe; Chiou, Dawson; Byrd, Jeff; Palmer, Nicholas; McFalls, Charles; Gore, Akhil A.
Source: 2023 China Semiconductor Technology International Conference (CSTIC) Semiconductor Technology International Conference (CSTIC), 2023 China. :1-4 Jun, 2023
Relation: 2023 China Semiconductor Technology International Conference (CSTIC)
Database: IEEE Xplore Digital Library