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LET Calibration of Ion Microbeams and Their SEE Cross Section Characterization

Title: LET Calibration of Ion Microbeams and Their SEE Cross Section Characterization
Authors: Peracchi, S.; Drury, R.; Pastuovic, Z.; Williams, J.; Tran, L.T.; Guatelli, S.; Pan, V.; Archer, J.W.; Rosenfeld, A.B.; Coronetti, A.; Emriskova, N.; Alia, R.G.; Button, D.; Mann, M.; Cohen, D.D.; Brenner, C.
Source: IEEE Transactions on Nuclear Science IEEE Trans. Nucl. Sci. Nuclear Science, IEEE Transactions on. 71(8):1565-1570 Aug, 2024
Database: IEEE Xplore Digital Library