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Integration of plasma dicing in the collective die to wafer hybrid bonding process

Title: Integration of plasma dicing in the collective die to wafer hybrid bonding process
Authors: Suhard, Samuel; Kennes, Koen; Bex, Pieter; Georgieva, Violeta; Schleicher, Filip; Walsby, Edward; Barnett, Richard; Jourdain, Anne; Beyer, Gerald; Beyne, Eric
Source: 2023 IEEE 25th Electronics Packaging Technology Conference (EPTC) Electronics Packaging Technology Conference (EPTC), 2023 IEEE 25th. :144-149 Dec, 2023
Relation: 2023 IEEE 25th Electronics Packaging Technology Conference (EPTC)
Database: IEEE Xplore Digital Library