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An Eddy Current Probe for the Detection of Subsuperficial Defects of Any Orientation

Title: An Eddy Current Probe for the Detection of Subsuperficial Defects of Any Orientation
Authors: Carere, F.; Sardellitti, A.; Bernieri, A.; Ferrigno, L.; Sangiovanni, S.; Laracca, M.
Source: IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement IEEE Trans. Instrum. Meas. Instrumentation and Measurement, IEEE Transactions on. 73:1-13 2024
Database: IEEE Xplore Digital Library