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A Transistor Level Relational Semantics for Electrical Rule Checking by SMT Solving

Title: A Transistor Level Relational Semantics for Electrical Rule Checking by SMT Solving
Authors: Oulkaid, Oussama; Ferres, Bruno; Moy, Matthieu; Raymond, Pascal; Khosravian, Mehdi; Henrio, Ludovic; Radanne, Gabriel
Source: 2024 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE) Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2024. :1-6 Mar, 2024
Relation: 2024 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE)
Database: IEEE Xplore Digital Library