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DeepTest: Using Machine Learning for Generating new Testsequences

Title: DeepTest: Using Machine Learning for Generating new Testsequences
Authors: Bielefeldt, Jens; Basener, Kai-Uwe; Krajewski, Roman; Wiesbrock, Hans-Werner; Reichenbach, Marc; Hubner, Michael
Source: 2024 13th Mediterranean Conference on Embedded Computing (MECO) Embedded Computing (MECO), 2024 13th Mediterranean Conference on. :1-9 Jun, 2024
Relation: 2024 13th Mediterranean Conference on Embedded Computing (MECO)
Database: IEEE Xplore Digital Library