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Circuit Model of NFC-Powered Systems for Monitoring Cracks in Built Cultural Heritage

Title: Circuit Model of NFC-Powered Systems for Monitoring Cracks in Built Cultural Heritage
Authors: Emara, Mohamed; Colella, Riccardo; Bucciero, Alberto; Catarinucci, Luca; Grassi, Giuseppe
Source: 2024 9th International Conference on Smart and Sustainable Technologies (SpliTech) Smart and Sustainable Technologies (SpliTech), 2024 9th International Conference on. :1-5 Jun, 2024
Relation: 2024 9th International Conference on Smart and Sustainable Technologies (SpliTech)
Database: IEEE Xplore Digital Library