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Intelligent Electrical Assessment of Silicon and Silicon Carbide Wafers for Power Applications in Automotive Field

Title: Intelligent Electrical Assessment of Silicon and Silicon Carbide Wafers for Power Applications in Automotive Field
Authors: Rundo, Francesco; Calabretta, Michele; Rundo, Michael S.; Castagnolo, Giulia; Pino, Carmelo; Battiato, Sebastiano; Messina, Angelo A.
Source: 2024 IEEE International Workshop on Metrology for Automotive (MetroAutomotive) Metrology for Automotive (MetroAutomotive), 2024 IEEE International Workshop on. :18-23 Jun, 2024
Relation: 2024 IEEE International Workshop on Metrology for Automotive (MetroAutomotive)
Database: IEEE Xplore Digital Library