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On the Fine Tuning of RRAM Resistance Under Variability Using Current Pulses at SET

Title: On the Fine Tuning of RRAM Resistance Under Variability Using Current Pulses at SET
Authors: Mahboubi, V.; Gomez, A.; Calomarde, A.; Arumi, D.; Rodriguez, R.; Manich, S.
Source: 2024 IEEE 30th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS) On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS), 2024 IEEE 30th International Symposium on. :1-7 Jul, 2024
Relation: 2024 IEEE 30th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS)
Database: IEEE Xplore Digital Library