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Co-Design of 300 mm Wafer Scale Package

Title: Co-Design of 300 mm Wafer Scale Package
Authors: Schleupen, Kai; Colgan, Evan G.; Anzola, Diego; Kuder, Robert P.; Mann, Phillip; Pear, Brian; Speidell, James L.
Source: 2024 23rd IEEE Intersociety Conference on Thermal and Thermomechanical Phenomena in Electronic Systems (ITherm) Thermal and Thermomechanical Phenomena in Electronic Systems (ITherm), 2024 23rd IEEE Intersociety Conference on. :1-8 May, 2024
Relation: 2024 23rd IEEE Intersociety Conference on Thermal and Thermomechanical Phenomena in Electronic Systems (ITherm)
Database: IEEE Xplore Digital Library