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Thermal Design & Performance of a 300 mm Wafer Scale System

Title: Thermal Design & Performance of a 300 mm Wafer Scale System
Authors: Colgan, Evan G.; Mann, Phillip; Schleupen, Kai
Source: 2024 23rd IEEE Intersociety Conference on Thermal and Thermomechanical Phenomena in Electronic Systems (ITherm) Thermal and Thermomechanical Phenomena in Electronic Systems (ITherm), 2024 23rd IEEE Intersociety Conference on. :1-6 May, 2024
Relation: 2024 23rd IEEE Intersociety Conference on Thermal and Thermomechanical Phenomena in Electronic Systems (ITherm)
Database: IEEE Xplore Digital Library