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Monolithically Integrated Bidirectional Gate ESD Protection Scheme of p-GaN Power HEMT by Dual-Gate Device Technology

Title: Monolithically Integrated Bidirectional Gate ESD Protection Scheme of p-GaN Power HEMT by Dual-Gate Device Technology
Authors: Ma, Y.; Li, S.; Li, M.; Lu, W.; Wang, L.; Ma, J.; Ye, R.; Wei, J.; Zhang, L.; Zhang, C.; Liu, S.; Sun, W.
Source: IEEE Transactions on Power Electronics IEEE Trans. Power Electron. Power Electronics, IEEE Transactions on. 40(2):2721-2725 Feb, 2025
Database: IEEE Xplore Digital Library