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Design Improvements with Temperature-Rise Tests and Analysis in Disconnectors

Title: Design Improvements with Temperature-Rise Tests and Analysis in Disconnectors
Authors: Ozbek, Akanda; Kilic, Orkun; Ocak, Ahmet; Duzkaya, Hidir; Tezcan, Suleyman Sungur
Source: 2024 11th International Conference on Electrical and Electronics Engineering (ICEEE) Electrical and Electronics Engineering (ICEEE), 2024 11th International Conference on. :12-15 Apr, 2024
Relation: 2024 11th International Conference on Electrical and Electronics Engineering (ICEEE)
Database: IEEE Xplore Digital Library