Katalog Plus
Bibliothek der Frankfurt UAS
Bald neuer Katalog: sichern Sie sich schon vorab Ihre persönlichen Merklisten im Nutzerkonto: Anleitung.
Dieses Ergebnis aus IEEE Xplore Digital Library kann Gästen nicht angezeigt werden.  Login für vollen Zugriff.

Bare Printed Circuit Board Defects Localization and Detection Using YOLOv5 Models

Title: Bare Printed Circuit Board Defects Localization and Detection Using YOLOv5 Models
Authors: Khan, Wajih Ahmed; Hamza, Amir; Akram, Muhammad Usman; Khan, Umar Shahbaz; Nawaz, Tahir
Source: 2024 International Conference on Robotics and Automation in Industry (ICRAI) Robotics and Automation in Industry (ICRAI), 2024 International Conference on. :1-7 Dec, 2024
Relation: 2024 International Conference on Robotics and Automation in Industry (ICRAI)
Database: IEEE Xplore Digital Library