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Flicker Noise Behavior in Advanced Bulk FinFETs at Cryogenic Temperatures

Title: Flicker Noise Behavior in Advanced Bulk FinFETs at Cryogenic Temperatures
Authors: Pathak, S.; Sharma, D.; Srinivasan, P.; Gonzalez, O.H.; Dixit, A.
Source: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 72(4):1926-1932 Apr, 2025
Database: IEEE Xplore Digital Library