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Effect of Wafer Backside Thin Film Thickness on Wafer Stealth Dicing Performance

Title: Effect of Wafer Backside Thin Film Thickness on Wafer Stealth Dicing Performance
Authors: George, Nathaniel Simon; Lim, Dao Kun; Khoo, Kian Guan; Lin Jolyn, Tey Jie; Shah, Ankur Harish; Tanola, Rommel; Lu, Mei Wen; Sim, Wen How; Singh, Harjashan
Source: 2024 IEEE 26th Electronics Packaging Technology Conference (EPTC) Electronics Packaging Technology Conference (EPTC), 2024 IEEE 26th. :695-699 Dec, 2024
Relation: 2024 IEEE 26th Electronics Packaging Technology Conference (EPTC)
Database: IEEE Xplore Digital Library