Katalog Plus
Bibliothek der Frankfurt UAS
Bald neuer Katalog: sichern Sie sich schon vorab Ihre persönlichen Merklisten im Nutzerkonto: Anleitung.
Dieses Ergebnis aus IEEE Xplore Digital Library kann Gästen nicht angezeigt werden.  Login für vollen Zugriff.

Modeling and Characterization of Current and Future 1.2 kV Wide Bandgap Semiconductor-based MOSFETs

Title: Modeling and Characterization of Current and Future 1.2 kV Wide Bandgap Semiconductor-based MOSFETs
Authors: Gautam, Sushanta; Szczublewski, Austin M.; Atwimah, Samuel K.; Fox, Aidan P.; Collings, William M.; Nelson, Tolen; Georgiev, Daniel G.; Khanna, Raghav; Koehler, Andrew D.; Hobart, Karl D.
Source: 2025 IEEE Applied Power Electronics Conference and Exposition (APEC) Applied Power Electronics Conference and Exposition (APEC), 2025 IEEE. :185-191 Mar, 2025
Relation: 2025 IEEE Applied Power Electronics Conference and Exposition (APEC)
Database: IEEE Xplore Digital Library