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Improvement in Short-Circuit Robustness of SiC-MOSFETs based Power Modules using Two-Level Turn-On (2LTO)

Title: Improvement in Short-Circuit Robustness of SiC-MOSFETs based Power Modules using Two-Level Turn-On (2LTO)
Authors: Alam, Muhammad Muneeb; Khalid, Saad; Khan, Nisar Ahmed; Ho Tran, Ngoc; Strache, Sebastian
Source: 2025 IEEE Applied Power Electronics Conference and Exposition (APEC) Applied Power Electronics Conference and Exposition (APEC), 2025 IEEE. :2569-2575 Mar, 2025
Relation: 2025 IEEE Applied Power Electronics Conference and Exposition (APEC)
Database: IEEE Xplore Digital Library