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Impact of Mechanical Stress on IGZO TFTs: Enhancing PBTI Degradation

Title: Impact of Mechanical Stress on IGZO TFTs: Enhancing PBTI Degradation
Authors: Vishwakarma, K.; Lee, K.; Kruv, A.; Chasin, A.; van Setten, M. J.; Pashartis, C.; Okudur, O. O.; Gonzalez, M.; Rassoul, N.; Belmonte, A.; Kaczer, B.
Source: 2025 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) Reliability Physics Symposium (IRPS), 2025 IEEE International. :1-6 Mar, 2025
Relation: 2025 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)
Database: IEEE Xplore Digital Library