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Predictive Validity for Sintered Die-Attach Performance Based on Cross-Sectional Morphology

Title: Predictive Validity for Sintered Die-Attach Performance Based on Cross-Sectional Morphology
Authors: Gao, Runhua; Tatsumi, Hiroaki; Kobatake, Takanori; Ueshima, Minoru; Nishikawa, Hiroshi
Source: 2025 International Conference on Electronics Packaging and iMAPS All Asia Conference (ICEP-IAAC) Electronics Packaging and iMAPS All Asia Conference (ICEP-IAAC), 2025 International Conference on. :169-170 Apr, 2025
Relation: 2025 International Conference on Electronics Packaging and iMAPS All Asia Conference (ICEP-IAAC)
Database: IEEE Xplore Digital Library