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Analysis of Dynamic-Ron and VTH Shift in On-Wafer 100-V p-GaN HEMTs Emulating Monolithically Integrated Half-Bridge Circuits

Title: Analysis of Dynamic-Ron and VTH Shift in On-Wafer 100-V p-GaN HEMTs Emulating Monolithically Integrated Half-Bridge Circuits
Authors: Modica, L.; Zagni, N.; Cioni, M.; Cappellini, G.; Castagna, M.E.; Giorgino, G.; Iucolano, F.; Chini, A.
Source: IEEE Journal of Emerging and Selected Topics in Power Electronics IEEE J. Emerg. Sel. Topics Power Electron. Emerging and Selected Topics in Power Electronics, IEEE Journal of. 13(6):7679-7686 Dec, 2025
Database: IEEE Xplore Digital Library