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Modified Angelov Model with Improved Accuracy for RF GaN-on-Si HEMTs

Title: Modified Angelov Model with Improved Accuracy for RF GaN-on-Si HEMTs
Authors: Chen, David C.; Chou, Min Li; Lin, Kerwin; Hsieh, Mike; Lin, Perry; Lin, Heng Ching; Lee, Kevin; Hou, Alex; Lin, Barry; Lai, M. C.
Source: 2025 IEEE 37th International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS) Microelectronic Test Structures (ICMTS), 2025 IEEE 37th International Conference on. :1-4 Mar, 2025
Relation: 2025 IEEE 37th International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS)
Database: IEEE Xplore Digital Library