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Emerging Embedded Non-Volatile Memories Beyond 28nm in AI Era

Title: Emerging Embedded Non-Volatile Memories Beyond 28nm in AI Era
Authors: Han, Shinhee; Oh, Joosung; Lee, Tae-Young; Park, Jaehyeon; Kazutaka, Yamane; Chung, Yongseok; Yang, Gwangseok; Lee, Kangmoon; Hwang, Sohee; Kang, Gyuseong; Shin, Hyun-Jin; Nam, Kyung-Tae; Son, Jaesung; Seo, Boyoung; Suh, Kiseok; Kim, Younghyun; Jeong, Junho; Ko, Seungpil; Yeom, Kyongsik; Park, Jinha; Park, Jeong-Heon; Lee, Kangho; Ku, Ja-Hum
Source: 2025 Symposium on VLSI Technology and Circuits (VLSI Technology and Circuits) VLSI Technology and Circuits (VLSI Technology and Circuits), 2025 Symposium on. :1-3 Jun, 2025
Relation: 2025 Symposium on VLSI Technology and Circuits (VLSI Technology and Circuits)
Database: IEEE Xplore Digital Library