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Atomistic simulations of failure mechanisms in ultrascaled HfOx RRAM arrays

Title: Atomistic simulations of failure mechanisms in ultrascaled HfOx RRAM arrays
Authors: Kaniselvan, Manasa; Mladenovic, Marko; Clarysse, Jente; Luisier, Mathieu
Source: 2025 Device Research Conference (DRC) Device Research Conference (DRC), 2025. :1-2 Jun, 2025
Relation: 2025 Device Research Conference (DRC)
Database: IEEE Xplore Digital Library