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Reliability, Security, and Sustainability Challenges in 3-D NAND Flash SSDs

Title: Reliability, Security, and Sustainability Challenges in 3-D NAND Flash SSDs
Authors: Ray, B.; Raghunathan, S.; Pasricha, S.
Source: IEEE Design & Test IEEE Des. Test Design & Test, IEEE. 43(1):7-22 Feb, 2026
Database: IEEE Xplore Digital Library